La Z X ha tagliato il polacco ottico di entrambi i lati del grado dei cristalli del wafer LiNbO3

La Z X ha tagliato il polacco ottico di entrambi i lati del grado dei cristalli del wafer LiNbO3

Dettagli:

Luogo di origine: La Cina
Marca: BonTek
Certificazione: ISO:9001, ISO:14001
Numero di modello: LiNbO3 (LNC)

Termini di pagamento e spedizione:

Quantità di ordine minimo: 2 PCS
Prezzo: Negoziabile
Imballaggi particolari: Pacchetto del barattolo della cassetta, chiuso sotto vuoto
Tempi di consegna: 1-4 settimane
Termini di pagamento: T/T
Capacità di alimentazione: 10000 PCS/Month
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Informazioni dettagliate

Materiale: LiNbO3 Crystal Wafer Tipo: Grado ottico
Diametro: 4inch, 6inch, a 8 pollici Orientamento: X tagliato, Z tagliato
Spesso: 350um, 500um Tipo di superficie: Polacco di entrambi i lati
Rugosità: Angstrom Ra<5 Applicazione: Dispositivo ottico
Evidenziare:

La X ha tagliato il wafer LiNbO3

,

Entrambi i lati lucidano i cristalli LiNbO3

,

LiNbO3 ottico Crystal Wafer

Descrizione di prodotto

Polacco ottico X tagliato Z tagliato di entrambi i lati del grado del wafer di cristalli LiNbO3

 

La velocità del suono per le onde longitudinali in LiNbO3 che si propaga lungo le asce principali è per la Z-direzione, 7.271*10^5 cm/s; per la Y-direzione, 6.549*10^5 cm/s; e per la X-direzione, 6.580*10^5 cm/s.32, 43,44 che si applicano questi valori al caso di un cristallo Y tagliato di 10*10*0.5 mm3 LNO, il modo extensional di spessore dovrebbe comparire a 6,58 megahertz. Il picco osservato più vicino è concentrato ad una frequenza leggermente più bassa di 6,34 megahertz, che possono essere spiegati in conseguenza dell'effetto di pressione delle stagnole di Metglas. Le risonanze extensional calcolate di lunghezza lungo le direzioni di Z e di X (327,5 chilocicli e 363,5 chilocicli, rispettivamente) possono essere attribuite ai picchi hanno osservato a 314 chilocicli e a 355 chilocicli.

 

La Z X ha tagliato il polacco ottico di entrambi i lati del grado dei cristalli del wafer LiNbO3 0

 

Materiale

wafer di 4inch 6inch 8inch LiNbO3 LNC

Orientamento

Z tagliato o X tagliato

Finitura superficia

Doppia lucidatura dei lati

(DLP/SLP/SSP/DSP tutto il disponibile)

Spessore

0.35mm, 0.50mm, 1.00mm

TTV

< 5="">

ARCO

± 30um

Filo di ordito

< 40="">

Appartamenti di orientamento

Tacca standard dei semi

Ra laterale lucidato

Ra di rugosità<5a>

Criteri laterali posteriori

Ra di rugosità: 0.5-1.0µm GC#1000

Arrotondamento del bordo

Soddisfacente rispetto alla norma dei SEMI M1.2/riferisca a IEC62276

 

Crystal Sturucture

Trigonal, gruppo di spazio R3c, gruppo del punto 3m

Punto di fusione

1253℃

Durezza di Mohs

5

Densità

4.64g/cm3

Deliquescenza

Nessuno

Omogeneità ottica

~5x10-5/cm

Gamma della trasparenza

420-5200nm

Coefficiente di assorbimento

~0.1%/cm @1064nm

Indici di rifrazione

@1064nm

Ne =2.146, no = 2.220@1300nm

Ne =2.156, no = 2.232@1064nm

Ne =2.203, no = 2.286@632.8nm

Coefficienti di espansione termica (a℃ 25)

//a, 2.0x10-6/K

//a, 2.2x10-6/K

Coefficienti di conducibilità termica

38 W/m/K a 25℃

Coefficienti ottici termici

dno/dT =-0.874/K di x 10-6a1.4μm

dne/dT =39.073/K di x 10-6a1.4μm

Le equazioni di Sellmeier

(λ nel μm)

nessun 2=4.9048+0.11768/(λ2-0,04750)-0.027169λ2

Ne 2=4.5820+0.099169/(λ2-0,04443)-0.02195λ2

 

La Z X ha tagliato il polacco ottico di entrambi i lati del grado dei cristalli del wafer LiNbO3 1

 

La Z X ha tagliato il polacco ottico di entrambi i lati del grado dei cristalli del wafer LiNbO3 2

 

 

Controllo di accettazione

La Z X ha tagliato il polacco ottico di entrambi i lati del grado dei cristalli del wafer LiNbO3 3

 

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  • Se i prodotti sono trovati nocivi durante il corriere, prenda prego un'immagine o registri un video immediatamente. Non prenda i prodotti nocivi dalla scatola d'imballaggio! Contattici immediatamente e risolveremo bene il problema.

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